NF EN 60749:1999被替代

Defines test methods to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Additional test methods may be required for non-cavity devices.

Indice de Classement: C96-022 (03/2002) Supersedes NFC 96 022 (07/2002)

NFC 96 022:1999

NF EN 60749-2:2002

NF EN 60749-1:2003

NF EN 60749-15:2003

NF EN 60749-5:2003

NF EN 60749-21:2005

NF EN 60749-10:2002

NF EN 60749-11:2002

NF EN 60749-12:2002

NF EN 60749-13:2002

NF EN 60749-3:2002

NF EN 60749-4:2002

NF EN 60749-6:2002

NF EN 60749-7:2002

NF EN 60749-9:2002

NF EN 60749-18:2003

NF EN 60749-19:2003

NF EN 60749-36:2003

NF EN 60749-20:2003

NF EN 60749-22:2003

NF EN 60749-31:2003

NF EN 60749-32:2003

NF EN 60749-8:2003

NF EN 60749-21:2012

NF EN 60749-7:2012

NF EN 60749-15:2011

NF EN 60749-20:2010

NF EN 60749-25:2003

EN 60749:1999 - Identical

SN EN 60749:1999 - Identical

BS EN 60749:1999 - Identical

DIN EN 60749 (2002-09) - Identical

NBN EN 60749:1999 - Identical

IEC 60749 Ed. 2.2 - Identical

I.S. EN 60749:1999 - Identical

UNE EN 60749:2000 - Identical

SS EN 60749:1999 - Identical