NF EN 60749-19:2003现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 19: Die Shear Strength
出版：Association Francaise de Normalisation
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2003 AMD 1 2011 [01/08/2011]2003 [01/08/2003]
Indice de classement: C96-022-19. (09/2003) Supersedes NF EN 60749. (06/2007)
IEC 60749-19 Ed. 1.0 - Identical
SS EN 60749-19 Ed. 1 (2003) - Identical
UNE EN 60749-19:2003 - Identical
EN 60749-19:2003 - Identical
I.S. EN 60749-19:2003 - Identical
NBN EN 60749-19:2004 - Identical
DIN EN 60749-19 (2003-10) - Identical
BS EN 60749-19:2003+A1:2010 - Identical
SN EN 60749-19:2003 - Identical
SS EN 60749-19:2003 - Identical
DIN EN 60749-19 (2011-01) - Identical
