DIN EN 60749 (2002-09)被替代

Defines test methods to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Additional test methods may be required for non-cavity devices.

Supersedes DIN IEC 60749. (05/2002) Supersedes DIN IEC 47-1425-CD. (09/2002)

DIN IEC 60749 (1987-09)

DIN IEC 47-1425-CD (1998-11)

DIN EN 60749-7 (2012-02)

DIN EN 60749-20 (2010-04)

DIN EN 60749-19 (2011-01)

DIN EN 60749-32 (2011-01)

DIN EN 60749-15 (2011-06)

DIN EN 60749-21 (2012-01)

DIN EN 60749-19 (2003-10)

DIN EN 60749-36 (2003-12)

DIN EN 60749-1 (2003-12)

DIN EN 60749-5 (2003-09)

DIN EN 60749-14 (2004-07)

DIN EN 60749-25 (2004-04)

DIN EN 60749-2 (2003-04)

DIN EN 60749-15 (2003-10)

DIN EN 60749-4 (2003-04)

DIN EN 60749-6 (2003-04)

DIN EN 60749-7 (2003-04)

DIN EN 60749-9 (2003-04)

DIN EN 60749-10 (2003-04)

DIN EN 60749-11 (2003-04)

DIN EN 60749-12 (2003-04)

DIN EN 60749-13 (2003-04)

DIN EN 60749-3 (2003-04)

DIN EN 60749-8 (2003-12)

DIN EN 60749-20 (2003-12)

DIN EN 60749-22 (2003-12)

DIN EN 60749-31 (2003-12)

DIN EN 60749-32 (2003-12)

DIN EN 60749-21 (2005-06)

SS EN 60749:1999 - Identical

UNE EN 60749:2000 - Identical

I.S. EN 60749:1999 - Identical

IEC 60749 Ed. 2.2 - Identical

NBN EN 60749:1999 - Identical

NF EN 60749:1999 - Identical

BS EN 60749:1999 - Identical

SN EN 60749:1999 - Identical

EN 60749:1999 - Identical