
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 2: Low Air Pressure
出版:Association Francaise de Normalisation

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2002 [01/12/2002]2001 PR [01/03/2001]
Indice de Classement: C96-022-2. PR NF EN 60749-2 March 2001. (04/2001) Supersedes NF EN 60749. (06/2007)
DIN EN 60749-2 : 2003 - Identical
BS EN 60749-2 : 2002 - Identical
I.S. EN 60749-2:2002 - Identical
DIN EN 60749-2 : 2003 - Identical
BS EN 60749-2:2002 - Identical
DIN EN 60749-2 (2003-04) - Identical
NBN EN 60749-2:2003 - Identical
I.S. EN 60749-2:2002 - Identical
IEC 60749-2 Ed. 1.0 - Identical
SS EN 60749-2 Ed. 1 (2003) - Identical
UNE EN 60749-2:2003 - Identical