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NF EN 60749-2:2002现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 2: Low Air Pressure

出版:Association Francaise de Normalisation

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基本信息
标准编号: NF EN 60749-2:2002
发布时间:2002/12/1 0:00:00
标准类别:Standard
出版单位:Association Francaise de Normalisation
标准页数:9
标准简介

2002 [01/12/2002]2001 PR [01/03/2001]

标准备注

Indice de Classement: C96-022-2. PR NF EN 60749-2 March 2001. (04/2001) Supersedes NF EN 60749. (06/2007)

本标准替代的旧标准

NF EN 60749:1999

等同采用的国际标准

DIN EN 60749-2 : 2003 - Identical

BS EN 60749-2 : 2002 - Identical

I.S. EN 60749-2:2002 - Identical

DIN EN 60749-2 : 2003 - Identical

BS EN 60749-2:2002 - Identical

DIN EN 60749-2 (2003-04) - Identical

NBN EN 60749-2:2003 - Identical

I.S. EN 60749-2:2002 - Identical

IEC 60749-2 Ed. 1.0 - Identical

SS EN 60749-2 Ed. 1 (2003) - Identical

UNE EN 60749-2:2003 - Identical