NF EN 60749-8:2003现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 8: Sealing
出版：Association Francaise de Normalisation
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Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). It determines the leak rate of semiconductor devices.
Indice de classement: C96-022-8. (12/2003) Supersedes NF EN 60749. (06/2007)
UNE EN 60749-8:2004 - Identical
SS EN 60749-8 Ed. 1 (2003) - Identical
IEC 60749-8 Ed. 1.0 - Identical
I.S. EN 60749-8:2003 - Identical
NBN EN 60749-8:2004 - Identical
DIN EN 60749-8 (2003-12) - Identical
BS EN 60749-8:2003 - Identical
SN EN 60749-8:2003 - Identical
DIN EN 60749-8 : 2003 - Identical
BS EN 60749-8 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-8:2003 - Identical
DIN EN 60749-8 : 2003 - Identical
