NF EN 60749-9:2002现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 9: Permanence Of Marking
出版：Association Francaise de Normalisation
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2002 [01/12/2002]
Indice de classement: C96-022-9. (03/2003) Supersedes NF EN 60749. (06/2007)
UNE EN 60749-9:2003 - Identical
I.S. EN 60749-9:2002 - Identical
NBN EN 60749-9:2003 - Identical
BS EN 60749-9:2017 - Identical
EN 60749-9:2017 - Identical
DIN EN 60749-9 : 2016 - Identical
BS EN 60749-9 : 2017 - Identical
DIN EN 60749-9 : 2016 - Identical
I.S. EN 60749-9:2017 - Identical
EN 60749-9:2002 - Identical
BS EN 60749-9:2002 - Identical
DIN EN 60749-9 (2003-04) - Identical
IEC 60749-9 Ed. 1.0 - Identical
SS EN 60749-9 Ed. 1 (2003) - Identical
