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DIN EN 60749-19 (2003-10)被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 19: Die Shear Strength

出版:German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息
标准编号: DIN EN 60749-19 (2003-10)
发布时间:2003/10/1 0:00:00
标准类别:Standard
出版单位:German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
标准页数:0
标准简介

2003 [01/10/2003]DRAFT 2002 [01/05/2002]

标准备注

Supersedes DIN EN 60749. (06/2005) DRAFT AMD 1 issued in October 2009. (11/2009)

本标准替代的旧标准

DIN EN 60749 (2002-09)

替代本标准的新标准

DIN EN 60749-19 (2011-01)

等同采用的国际标准

NF EN 60749-19:2003 - Identical

I.S. EN 60749-19:2003 - Identical

IEC 60749-19 Ed. 1.0 - Identical

SS EN 60749-19 Ed. 1 (2003) - Identical

UNE EN 60749-19:2003 - Identical

EN 60749-19:2003 - Identical

SN EN 60749-19:2003 - Identical

BS EN 60749-19:2003+A1:2010 - Identical

NBN EN 60749-19:2004 - Identical