寰标网-搜索-全部-国内标准

已选条件： 国内中标分类 H 冶金金属化学分析方法半金属及半导体材料分析方法

标准状态：

发布时间：

发布时间

每页显示20 条，共找到 131 条结果 <1/7>

标准编号	标准名称	发布部门	发布日期	状态
GB/T 37385-2019	硅中氯离子含量的测定离子色谱法	国家市场监督管理总局..	2019-11-28	现行
GB/T 35306-2017	硅单晶中碳、氧含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法	中华人民共和国国家质..	2018-07-01	现行
GB/T 35309-2017	用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程	中华人民共和国国家质..	2018-07-01	现行
GB/T 17170-2015	半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法	中华人民共和国国家质..	2016-07-01	现行
GB/T 19199-2015	半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法	中华人民共和国国家质..	2016-07-01	现行
GB/T 24578-2015	硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法	中华人民共和国国家质..	2017-01-01	现行
GB/T 32277-2015	硅的仪器中子活化分析测试方法	中华人民共和国国家质..	2017-01-01	现行
GB/T 32281-2015	太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定二次离子质谱法	中华人民共和国国家质..	2017-01-01	现行
YS/T 1059-2015	硅外延用三氯氢硅中总碳的测定气相色谱法	中华人民共和国工业和..	2022-08-23	现行
YS/T 1060-2015	硅外延用三氯氢硅中其他氯硅烷含量的测定气相色谱法	中华人民共和国工业和..	2015-10-01	现行
YS/T 980-2014	高纯三氧化二镓杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法	中华人民共和国工业和..	2015-04-01	现行
YS/T 981.1-2014	高纯铟化学分析方法镁、铝、硅、硫、铁、镍、铜、锌、砷、银、镉、锡、铊、铅的测定高质量分辨率辉光放电质谱法	中华人民共和国工业和..	2015-04-01	现行
YS/T 34.1-2011	高纯砷化学分析方法电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定高纯砷中杂质含量	中华人民共和国工业和..	2012-07-01	现行
YS/T 34.2-2011	高纯砷化学分析方法极谱法测定硒量	中华人民共和国工业和..	2012-07-01	现行
YS/T 34.3-2011	高纯砷化学分析方法极谱法测定硫量	中华人民共和国工业和..	2012-07-01	现行
GB/T 26067-2010	硅片切口尺寸测试方法	中华人民共和国国家质..	2011-10-01	现行
GB/T 26070-2010	化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法	中华人民共和国国家质..	2011-10-01	现行
GB/T 26074-2010	锗单晶电阻率直流四探针测量方法	中华人民共和国国家质..	2011-10-01	现行
YS/T 226.9-2009	硒化学分析方法第9部分：铁量的测定火焰原子吸收光谱法	中华人民共和国工业和..	2010-06-01	现行
YS/T 226.1-2009	硒化学分析方法第1部分：铋量的测定氢化物发生-原子荧光光谱法	中华人民共和国工业和..	2010-06-01	现行

全选

首页上一页12 3 4 5 6 ...下一页尾页