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高纯砷化学分析方法极谱法测定硒量现行

Method for chemical analysis of the high-purity arsenic—Predicating method for determinating the concentration of selenium

标准号：YS/T 34.2-2011

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基本信息

标准号：YS/T 34.2-2011

发布时间：2011-12-20

实施时间：2012-07-01

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：程高明、唐云博

出版机构：中国标准出版社

标准分类：半金属及半导体材料分析方法

ICS分类：金属材料化学分析

起草单位：峨嵋半导体材料厂

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国工业和信息化部

主管部门：全国有色金属标准化技术委员会

标准简介

本标准规定了高纯砷中硒含量的测定方法。本标准适用于砷(99.999%)中硒含量的测定。测定范围: 0.00005%～0.00015%。

标准摘要

YS/T34《高纯砷化学分析方法》包括3个部分:
———第1部分:高纯砷化学分析方法电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯砷中杂质含量;
———第2部分:高纯砷化学分析方法极谱法测定硒量;
———第3部分:高纯砷化学分析方法极谱法测定硫量。
本部分是YS/T34的第2部分。
本部分代替YS/T34.3—1992《高纯砷化学分析方法极谱法测定硒量》。
本部分按照GB/T1.1—2009《标准化工作导则第1部分:标准的结构和编写》的规定编写。
本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。
本部分负责起草单位:峨嵋半导体材料厂。
本部分主要起草人:程高明、唐云博。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———YS/T34.3—1992。

替代情况

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采标情况

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