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硅中氯离子含量的测定 离子色谱法
硅中氯离子含量的测定 离子色谱法 现行
Test method for chloride content of silicon—Ion chromatography method
标准号：GB/T 37385-2019
基本信息
标准号：GB/T 37385-2019
发布时间：2019-03-25
实施时间：2020-02-01
首发日期：
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：王桃霞、刘逸枫、刘晓霞、刘源君、耿全荣、梁博松、鲁文锋、胡议允、贾芬、张佳伟、陈飞、刘国霞、邱艳梅、宗冰、李素青
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：金属材料试验
提出单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
起草单位：江苏中能硅业科技发展有限公司、新特能源股份有限公司、亚洲硅业(青海)有限公司、新疆协鑫新能源材料科技有限公司、苏州汉谱埃文材料科技有限公司、有色金属技术经济研究院
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
标准简介
本标准规定了硅中氯离子含量的离子色谱测定方法。本标准适用于测定棒状、块状、颗粒状和片状硅中氯离子含量的测定。测定范围为1.0 μg/g至硅中氯离子的最大固溶度。
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