高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定高纯砷中杂质含量 现行
Method for chemical analysis of the high-purity arsenic—Inductive coupling plasma mass spectrum (ICP-MS) for determinating the concentration of elements in the high-purity arsenic
标准号：YS/T 34.1-2011
基本信息
标准号：YS/T 34.1-2011
发布时间：2011-12-20
实施时间：2012-07-01
首发日期：
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：程高明、邹同贵、文英、唐云博、廖敏
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：金属材料化学分析
起草单位：峨嵋半导体材料厂、峨眉山嘉美高纯材料有限公司
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
主管部门：全国有色金属标准化技术委员会
标准简介
本标准规定了高纯砷中金属杂质含量的测定方法，采用电感耦合等离子质谱法测定砷中镁、铬、镍、铜、锌、银、锑、铅、铋、钠、钾、铝、钙、铁等14个杂质含量。本标准适用于99.999%～99.99999%高纯砷中金属杂质含量的测定。测定范围1×10-7% ～1000×10-7% 。
标准摘要
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YS/T34《高纯砷化学分析方法》包括3个部分: ———第1部分:高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯砷中杂质 含量; ———第2部分:高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量; ———第3部分:高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量。 本部分是YS/T34的第1部分。 本部分代替YS/T34.1—1992《高纯砷化学分析方法 孔雀绿分光光度法测定锑量》和YS/T34.2—1992《高纯砷化学分析方法 化学光谱法测钴、锌、银、铜、钙、铝、镍、铬、铅、镁、铁量》。 本部分与YS/T34.1~34.2—1992标准相比,主要有如下变动: ———采用电感耦合等离子质谱法测定高纯砷中镁、铬、镍、铜、锌、银、铅、铋、钠、钾、铝、钙、铁、锑等14个杂质的含量。 ———按照GB/T1.1—2009《标准化工作导则 第1部分:标准的结构和编写》的规定编写。 本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。 本部分负责起草单位:峨嵋半导体材料厂、峨眉山嘉美高纯材料有限公司。 本部分主要起草人:程高明、邹同贵、文英、唐云博、廖敏。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为: ———YS/T34.1~34.2—1992。 |
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