EN 60749-27:2006现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 27: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Machine Model (Mm) (Iec 60749-27:2006/A1:2012)
出版：European Committee for Standards - Electrical
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2006 AMD 1 2012 [01/11/2012]2006 [01/08/2006]
BS EN 60749-27:2006+A1:2012 - Identical
CEI EN 60749-27 Ed. 1 (2007) - Identical
OVE/ONORM EN 60749-27:2007 - Identical
PN EN 60749-27:2008 - Identical
NEN EN IEC 60749-27:2007 - Identical
DIN EN 60749-27 (2013-04) - Identical
OVE/ONORM EN 60749-27:2013 - Identical
DS EN 60749-27:2006 - Identical
SS EN 60749-27:2006 - Identical
IEC 60749-27 Ed. 2.0 - Identical
I.S. EN 60749-27:2006 - Identical
PN EN 60749-27:2006 - Identical
SS EN 60749-27 Ed. 1 (2006) - Identical
DIN EN 60749-27 (2007-01) - Identical
NBN EN 60749-27:2007 - Identical
NF EN 60749-27:2006 - Identical
