OVE/ONORM EN 60749-27:2013现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 27: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Machine Model (Mm) (Iec 60749-27:2006 + A1:2012)
出版：Osterreichisches Normungsinstitut
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基本信息
标准编号： OVE/ONORM EN 60749-27:2013
发布时间：2013/7/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Osterreichisches Normungsinstitut
标准页数：15
标准简介
2013 [01/07/2013]2007 [01/03/2007]
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-27:2006 - Identical
