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PN EN 60749-27:2008现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 27: Electrostatic Discharge (esd) Sensitivity Testing - Machine Model (mm)

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

标准编号： PN EN 60749-27:2008

发布时间：2008/2/5 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Polish Committee for Standardization

标准页数：15

标准简介

2008 AMD 1 2013 [27/06/2013]2008 [05/02/2008]2006 [28/11/2006]

标准备注

AMD 1 2013 is only available in English. (09/2013)

本标准替代的旧标准

PN EN 60749-27:2006

等同采用的国际标准

EN 60749-27:2006 - Identical

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