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已选条件： 国内中标分类 L 电子元器件与信息技术微电路微电路综合

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标准编号	标准名称	发布部门	发布日期	状态
GB/T 8976-1996	膜集成电路和混合膜集成电路总规范	国家技术监督局	1997-01-01	现行
GB/T 15431-1995	微电路模块总规范	国家技术监督局	1995-08-01	已作废
GB/T 15876-1995	塑料四面引线扁平封装引线框架规范	国家技术监督局	1996-08-01	已作废
GB/T 15877-1995	蚀刻型双列封装引线框架规范	国家技术监督局	1996-08-01	已作废
GB/T 15878-1995	小外形封装引线框架规范	国家技术监督局	1996-08-01	已作废
GB/T 15879-1995	半导体器件的机械标准化第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值	国家技术监督局	2019-11-28	已作废
GB/T 15138-1994	膜集成电路和混合集成电路外形尺寸	国家技术监督局	1995-04-01	现行
GB/T 15297-1994	微电路模块机械和气候试验方法	国家技术监督局	1995-07-01	已作废
GB/T 14112-1993	半导体集成电路塑料双列封装冲制型引线框架规范	国家技术监督局	1993-08-01	已作废
GB/T 14113-1993	半导体集成电路封装术语	国家技术监督局	1993-08-01	现行
GB/T 14862-1993	半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法	国家技术监督局	1994-10-01	现行
GB/T 14028-1992	半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理	国家技术监督局	2018-11-21	废止
GB/T 14029-1992	半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理	国家技术监督局	1993-08-01	现行
GB/T 14030-1992	半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理	国家技术监督局	1993-08-01	现行
GB/T 14031-1992	半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理	国家技术监督局	1993-08-01	现行
GB/T 14032-1992	半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理	国家技术监督局	1993-08-01	现行
QJ 2212-1991	半导体集成电路设计指南		2019-12-19	已作废
GB/T 13062-1991	膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (采用鉴定批准程序)	国家技术监督局	2019-11-28	已作废
GB/T 12842-1991	膜集成电路和混和膜集成电路术语	国家技术监督局	1991-01-02	现行
GB/T 12843-1991	半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理	国家技术监督局	1991-01-02	已作废

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