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半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理现行

General principles of measruing methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits

标准号：GB/T 14031-1992

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基本信息

标准号：GB/T 14031-1992

发布时间：1992-01-02

实施时间：1993-08-01

首发日期：1992-12-17

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：

出版机构：中国标准出版社

标准分类：微电路综合

ICS分类：集成电路、微电子学

起草单位：上海件五厂

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布部门：国家技术监督局

主管部门：工业和信息化部（电子）

标准简介

本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环电参数测试方法的基本原理。模拟锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3439《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》。

替代情况

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