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[GB/T 8976-1996] 膜集成电路和混合膜集成电路总规范[现行]
发布时间：1996-07-09
实施时间：1997-01-01
本总规范适用于膜集成电路和混合膜集成电路(F&HFICs)包括GB/T 16464—1996第Ⅳ章第..
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[GB/T 15431-1995] 微电路模块总规范[已作废]
发布时间：1995-01-06
实施时间：1995-08-01
本标准规定了微电路模块的技术要求和质量评定程序。本标准适用于模块的研制、生产和采购。
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[GB/T 15876-1995] 塑料四面引线扁平封装引线框架规范[已作废]
发布时间：1995-01-02
实施时间：1996-08-01
本规范规定了半导体集成电路塑料四面引线扁平封装引线框架的技术要求及检验规则。本规范适用于半导体集成电..
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[GB/T 15877-1995] 蚀刻型双列封装引线框架规范[已作废]
发布时间：1995-01-02
实施时间：1996-08-01
本规范规定了半导体集成电路蚀刻型双列封装引线框架的技术要求及检验规则。本规范适用于半导体集成电路塑料..
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[GB/T 15878-1995] 小外形封装引线框架规范[已作废]
发布时间：1995-01-02
实施时间：1996-08-01
本规范规定了半导体集成电路小外形封装（SOP）引线框架的技术要求及检验规则。本规范适用于半导体集成电..
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[GB/T 15879-1995] 半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值[已作废]
发布时间：1995-01-02
实施时间：1996-08-01
本标准规定了适用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值。
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[GB/T 15138-1994] 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸[现行]
发布时间：1994-06-25
实施时间：1995-04-01
本标准规定了膜集成电路和混合集成电路的封装形式及外形尺寸，适用于膜集成电路和混合集成电路成品尺寸检验..
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[GB/T 15297-1994] 微电路模块机械和气候试验方法[已作废]
发布时间：1994-01-02
实施时间：1995-07-01
本标准规定了微电路模块在规定条件下进行的机械和气候试验方法。本标准适用于模块的研制、生产、交收各阶段..
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[GB/T 14112-1993] 半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范[已作废]
发布时间：1993-01-21
实施时间：1993-08-01
本规范规定了半导体集成电路塑料双列封装冲制型引线框架的技术要求及检验规则。本规范适用于双列(DIP)..
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[GB/T 14113-1993] 半导体集成电路封装术语[现行]
发布时间：1993-01-21
实施时间：1993-08-01
本标准规定了半导体集成电路封装在生产制造、工程应用和产品交验等方面使用的基本术语。本标准适用于与半导..
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[GB/T 14862-1993] 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法[现行]
发布时间：1993-01-02
实施时间：1994-10-01
本标准规定了半导体集成电路封装结到外壳热阻的测试方法。本标准适用于半导体集成电路陶瓷、金属、塑料封装..
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[GB/T 14028-1992] 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理[废止]
发布时间：1992-01-02
实施时间：1993-08-01
本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关电参数测试的基本原理。模拟开关与CMOS电路相同..
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[GB/T 14029-1992] 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理[现行]
发布时间：1992-01-02
实施时间：1993-08-01
本标准规定了半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理。乘法器与运算放大器相同的静态与动态参数测试，..
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[GB/T 14030-1992] 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理[现行]
发布时间：1992-01-02
实施时间：1993-08-01
本标准规定了半导体集成电路时基电路电参数测试方法的基本原理。
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[GB/T 14031-1992] 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理[现行]
发布时间：1992-01-02
实施时间：1993-08-01
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环电参数测试方法的基本原理。模拟锁相环与数字电路相同的静态和动态参..
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[GB/T 14032-1992] 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理[现行]
发布时间：1992-01-02
实施时间：1993-08-01
本标准规定了半导体集成电路数字锁相环电参数测试方法的基本原理。
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[QJ 2212-1991] 半导体集成电路设计指南[已作废]
发布时间：
实施时间：1991-12-01
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[GB/T 13062-1991] 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (采用鉴定批准程序)[已作废]
发布时间：1991-07-06
实施时间：1992-03-01
本规范规定了编制膜集成电路和混合膜集成电路(采用鉴定批准程序)详细规范的基本原则。
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[GB/T 12842-1991] 膜集成电路和混和膜集成电路术语[现行]
发布时间：1991-04-28
实施时间：1991-01-02
本标准规定了膜集成电路和混合膜集成电路的术语。本标准适用于膜集成电路和混合膜集成电路的生产、使用、科..
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[GB/T 12843-1991] 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理[已作废]
发布时间：1991-04-28
实施时间：1991-01-02
本标准规定了半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理。本标准适用于器件电参数的测..
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