当前位置： 首页 > 半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理已作废

General principle of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits parameters for semiconductor integrated circuits

标准号：GB/T 12843-1991

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

基本信息

标准号：GB/T 12843-1991

发布时间：1991-04-28

实施时间：1991-01-02

首发日期：1991-04-28

起草人：

作废日期：2005-10-14

标准分类：微电路综合

ICS分类：集成电路、微电子学

起草单位：北京机械自动化所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布部门：国家技术监督局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准规定了半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理。本标准适用于器件电参数的测试。

替代情况

会员注册/登录后查看详情

引用标准

会员注册/登录后查看详情

本标准相关公告

会员注册/登录后查看详情

采标情况

会员注册/登录后查看详情

推荐检测机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐认证机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐培训机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 已作废