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半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理废止

General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits

标准号：GB/T 14028-1992

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基本信息

标准号：GB/T 14028-1992

发布时间：1992-01-02

实施时间：1993-08-01

首发日期：1992-12-17

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：

作废日期：2018-08-01

出版机构：中国标准出版社

标准分类：微电路综合

ICS分类：集成电路、微电子学

起草单位：上海件五厂

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布部门：国家技术监督局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关电参数测试的基本原理。模拟开关与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。

替代情况

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