EN 60749-19:2003现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 19: Die Shear Strength
出版：European Committee for Standards - Electrical
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2003 AMD 1 2010 [01/09/2010]2003 COR 2003 [01/06/2003]2003 [01/04/2003]
DIN EN 60749-19 (2003-10) - Identical
BS EN 60749-19:2003+A1:2010 - Identical
SS EN 60749-19:2003 - Identical
OVE/ONORM EN 60749-19:2011 - Identical
CEI EN 60749-19:2004 - Identical
DS EN 60749-19:2003 - Identical
DIN EN 60749-19 (2011-01) - Identical
CEI EN 60749-19 Ed. 1 (2004) - Identical
SN EN 60749-19:2003 - Identical
NBN EN 60749-19:2004 - Identical
NF EN 60749-19:2003 - Identical
I.S. EN 60749-19:2003 - Identical
IEC 60749-19 Ed. 1.0 - Identical
PN EN 60749-19:2005 - Identical
SS EN 60749-19 Ed. 1 (2003) - Identical
UNE EN 60749-19:2003 - Identical
NEN EN IEC 60749-19:2003 - Identical
OVE/ONORM EN 60749-19:2003 - Identical
