欢迎来到寰标网！客服QQ：772084082 加入会员

[个人会员] 登录/ 注册我的订单2 购物车我的收藏标准服务

当前位置： 首页 > 标准详情页

UNE EN 60749-19:2003现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 19: Die Shear Strength

出版：Asociacion Espanola de Normalizacion

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

专家解读视频

基本信息

标准编号： UNE EN 60749-19:2003

发布时间：2011/1/19 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Asociacion Espanola de Normalizacion

标准页数：8

标准简介

2003 A1 2011 [19/01/2011]2003 [21/11/2003]

等同采用的国际标准

EN 60749-19:2003 - Identical

SS EN 60749-19 Ed. 1 (2003) - Identical

I.S. EN 60749-19:2003 - Identical

NF EN 60749-19:2003 - Identical

NBN EN 60749-19:2004 - Identical

SN EN 60749-19:2003 - Identical

DIN EN 60749-19 (2003-10) - Identical

BS EN 60749-19:2003+A1:2010 - Identical

DIN EN 60749-19 (2011-01) - Identical

SS EN 60749-19:2003 - Identical