OVE/ONORM EN 60749-19:2011现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 19: Die Shear Strength
出版：Osterreichisches Normungsinstitut
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基本信息
标准编号： OVE/ONORM EN 60749-19:2011
发布时间：2011/3/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Osterreichisches Normungsinstitut
标准页数：8
标准简介
2011 [01/03/2011]2003 [01/11/2003]
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-19:2003 - Identical
