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SN EN 60749-19:2003现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 19: Die Shear Strength Test

出版：Swiss Standards

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基本信息

标准编号： SN EN 60749-19:2003

发布时间：2003/4/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Swiss Standards

标准页数：0

标准简介

2003 [01/04/2003]

等同采用的国际标准

DIN EN 60749-19 (2003-10) - Identical

BS EN 60749-19:2003+A1:2010 - Identical

EN 60749-19:2003 - Identical

UNE EN 60749-19:2003 - Identical

SS EN 60749-19 Ed. 1 (2003) - Identical

IEC 60749-19 Ed. 1.0 - Identical

I.S. EN 60749-19:2003 - Identical

NF EN 60749-19:2003 - Identical

NBN EN 60749-19:2004 - Identical

SS EN 60749-19:2003 - Identical