欢迎来到寰标网！客服QQ：772084082 加入会员

[个人会员] 登录/ 注册我的订单2 购物车我的收藏标准服务

当前位置： 首页 > 标准详情页

SS EN 60749-19:2003现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 19: Die Shear Strength Test

出版：Standardiserings-Kommissionen I Sverige

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

专家解读视频

基本信息

标准编号： SS EN 60749-19:2003

发布时间：2011/1/26 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Standardiserings-Kommissionen I Sverige

标准页数：0

标准简介

2003 AMD 1 2011 [26/01/2011]1ED 2003 [20/10/2003]

本标准替代的旧标准

SS EN 60749-19 Ed. 1 (2003)

等同采用的国际标准

DIN EN 60749-19 (2011-01) - Identical

SN EN 60749-19:2003 - Identical

BS EN 60749-19:2003+A1:2010 - Identical

EN 60749-19:2003 - Identical

UNE EN 60749-19:2003 - Identical

I.S. EN 60749-19:2003 - Identical

NF EN 60749-19:2003 - Identical

NBN EN 60749-19:2004 - Identical