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DIN EN 60749 : 2002被替代

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

标准编号： DIN EN 60749 : 2002

标准类别：Standard

出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

标准页数：0

标准简介

Defines test methods to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Additional test methods may be required for non-cavity devices.

本标准替代的旧标准

DIN IEC 47-1425-CD : DRAFT 98

DIN IEC 60749 : 1987

替代本标准的新标准

DIN EN 60749-3 : 2003

DIN EN 60749-13 : 2003

DIN EN 60749-5 : 2003

DIN EN 60749-14 : 2004

DIN EN 60749-22 : 2003

DIN EN 60749-2 : 2003

DIN EN 60749-36 : 2003

DIN EN 60749-15 : 2011

DIN EN 60749-12 : 2003

DIN EN 60749-9 : 2016

DIN EN 60749-21 : 2012

DIN EN 60749-31 : 2003

DIN EN 60749-19 : 2011

DIN EN 60749-6 : 2016

DIN EN 60749-32 : 2011

DIN EN 60749-10 : 2003

DIN EN 60749-1 : 2003

DIN EN 60749-20 : 2010

DIN EN 60749-25 : 2004

DIN EN 60749-7 : 2012

DIN EN 60749-8 : 2003

DIN EN 60749-11 : 2003

DIN EN 60749-4 : 2016

等同采用的国际标准

SN EN 60749 : 1999 AMD 1 2000 - Identical

UNE EN 60749 : 2000 A2 2002 - Identical

NBN EN 60749 : 99 AMD 2 2002 - Identical

I.S. EN 60749:1944 - Identical

NF EN 60749 : 99 AMD 2 2002 - Identical

BS EN 60749 : 1999 - Identical