DIN EN 60749-19 : 2011现行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 19: DIE SHEAR STRENGTH
出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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EN 60749-19 : 2003 AMD 1 2010 - Identical
NF EN 60749-19 : 2003 AMD 1 2011 - Identical
UNE EN 60749-19 : 2003 - Identical
NBN EN 60749-19 : 2004 AMD 1 2010 - Identical
SN EN 60749-19 : 2003 - Identical
BS EN 60749-19 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-19:2003 - Identical
IEC 60749-19 : 1.1 - Identical
NF EN 60749-19 : 2003 AMD 1 2011 - Identical
I.S. EN 60749-19:2003 - Identical
BS EN 60749-19 : 2003 - Identical
UNE EN 60749-19 : 2003 - Identical
NBN EN 60749-19 : 2004 AMD 1 2010 - Identical
SN EN 60749-19 : 2003 - Identical
