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DIN EN 60749-32 : 2011现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 32: FLAMMABILITY OF PLASTIC-ENCAPSULATED DEVICES (EXTERNALLY INDUCED)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

标准编号： DIN EN 60749-32 : 2011

发布时间：2011/1/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

标准页数：8

标准简介

Applique aux dispositifs semiconducteurs (les dispositifs discrets et Circuits intégrés.) Il décide si le dispositif S'enflamme suite au chauffage externe.

本标准替代的旧标准

DIN EN 60749 : 2002

等同采用的国际标准

IEC 60749-32 : 1.1 - Identical

I.S. EN 60749-32:2003 - Identical

UNE EN 60749-32 : 2004 - Identical

EN 60749-32 : 2003 AMD 1 2010 - Identical

NF EN 60749-32 : 2003 AMD 1 2011 - Identical

BS EN 60749-32 : 2003 - Identical

NBN EN 60749-32 : 2004 AMD 1 2010 - Identical

SN EN 60749-32 : 2003 - Identical