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DIN EN 60749-25 : 2004现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 25: TEMPERATURE CYCLING

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

标准编号： DIN EN 60749-25 : 2004

发布时间：2004/1/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

标准页数：15

标准简介

Provides a test procedure for determining the ability of semiconductor devices and components and/or board assemblies to withstand mechanical stresses induced by alternating high and low temperature extremes.

本标准替代的旧标准

DIN EN 60749 : 2002

等同采用的国际标准

UNE EN 60749-25 : 2004 - Identical

BS EN 60749-25 : 2003 - Identical

EN 60749-25 : 2003 - Identical

NF EN 60749-25 : 2003 - Identical

SN EN 60749-25 : 2003 - Identical

NBN EN 60749-25 : 2004 - Identical

IEC 60749-25 : 1.0 - Identical

I.S. EN 60749-25:2003 - Identical