DIN EN 60749-11 : 2003现行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 11: RAPID CHANGE OF TEMPERATURE - TWO-FLUID-BATH METHOD
出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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Describes the rapid change of temperature test method and the two-fluid-bath method. It is applicable to all semiconductor devices.
UNE EN 60749-11 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-11:2002 - Identical
NF EN 60749-11 : 2002 - Identical
BS EN 60749-11 : 2002 - Identical
NBN EN 60749-11 : 2003 - Identical
EN 60749-11 : 2002 - Identical
IEC 60749-11 : 1.0 - Identical
NF EN 60749-11 : 2002 - Identical
BS EN 60749-11 : 2002 - Identical
UNE EN 60749-11 : 2003 - Identical
NBN EN 60749-11 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-11:2002 - Identical
