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DIN EN 60749-4 : 2016现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 4: DAMP HEAT, STEADY STATE, HIGHLY ACCELERATED STRESS TEST (HAST) (IEC 60749-4:2017)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

标准编号： DIN EN 60749-4 : 2016

标准类别：Standard

出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

标准页数：0

本标准替代的旧标准

DIN EN 60749 : 2002

等同采用的国际标准

NBN EN 60749-4 : 2003 - Identical

I.S. EN 60749-4:2017 - Identical

NF EN 60749-4 : 2002 - Identical

IEC 60749-4 : 2.0 - Identical

EN 60749-4 : 2017 - Identical

BS EN 60749-4 : 2017 - Identical

UNE EN 60749-4 : 2003 - Identical