DIN EN 60749-8 : 2003现行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 8: SEALING
出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). It determines the leak rate of semiconductor devices.
NF EN 60749-8 : 2003 - Identical
EN 60749-8 : 2003 - Identical
IEC 60749-8 : 1.0 - Identical
NBN EN 60749-8 : 2004 - Identical
SN EN 60749-8 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-8:2003 - Identical
UNE EN 60749-8 : 2004 - Identical
BS EN 60749-8 : 2003 - Identical
NBN EN 60749-8 : 2004 - Identical
BS EN 60749-8 : 2003 - Identical
NF EN 60749-8 : 2003 - Identical
SN EN 60749-8 : 2003 - Identical
I.S. EN 60749-8:2003 - Identical
UNE EN 60749-8 : 2004 - Identical
