EN 60749-35:2006现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 35: Acoustic Microscopy For Plastic Encapsulated Electronic Components
出版：European Committee for Standards - Electrical
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2006 [01/09/2006]
OVE/ONORM EN 60749-35:2007 - Identical
PN EN 60749-35:2009 - Identical
NEN EN IEC 60749-35:2006 - Identical
SS EN 60749-35 Ed. 1 (2006) - Identical
PN EN 60749-35:2006 - Identical
IEC 60749-35 Ed. 1.0 - Identical
I.S. EN 60749-35:2006 - Identical
NF EN 60749-35:2006 - Identical
NBN EN 60749-35:2007 - Identical
DIN EN 60749-35 (2007-03) - Identical
BS EN 60749-35:2006 - Identical
CEI EN 60749-35 Ed. 1 (2012) - Identical
DS EN 60749-35:2007 - Identical
