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PN EN 60749-35:2006被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 35: Acoustic Microscopy For Plastic Encapsulated Electronic Components

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

标准编号： PN EN 60749-35:2006

发布时间：2006/11/28 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Polish Committee for Standardization

标准页数：54

标准简介

2006 [28/11/2006]

替代本标准的新标准

PN EN 60749-35:2009

等同采用的国际标准

IEC 60749-35 Ed. 1.0 - Identical

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