DS EN 60749-35:2007现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 35: Acoustic Microscopy For Plastic Encapsulated Electronic Components
出版：Danish Standards
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基本信息
标准编号： DS EN 60749-35:2007
发布时间：2007/6/28 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Danish Standards
标准页数：28
标准简介
Specifies the procedures for performing acoustic microscopy on plastic encapsulated electronic components.
等同采用的国际标准
EN 60749-35:2006 - Identical
