CEI EN 60749-35 Ed. 1 (2012)现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 35: Acoustic Microscopy For Plastic Encapsulated Electronic Components
出版：Comitato Elettrotecnico Italiano
专家解读视频
基本信息
标准编号： CEI EN 60749-35 Ed. 1 (2012)
发布时间：2012/2/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Comitato Elettrotecnico Italiano
标准页数：28
标准简介
1ED 2012 [01/02/2012]
标准备注
Classificazione CEI 47-87. (03/2012)
等同采用的国际标准
EN 60749-35:2006 - Identical
