PN EN 60749-35:2009现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 35: Acoustic Microscopy For Plastic Encapsulated Electronic Components
出版：Polish Committee for Standardization
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基本信息
标准编号： PN EN 60749-35:2009
发布时间：2009/5/6 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Polish Committee for Standardization
标准页数：21
标准简介
2009 [06/05/2009]2006 [28/11/2006]
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-35:2006 - Identical
