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SS EN 60749-35 Ed. 1 (2006)现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 35: Acoustic Microscopy For Plastic Encapsulated Electronic Components

出版:Standardiserings-Kommissionen I Sverige

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基本信息
标准编号: SS EN 60749-35 Ed. 1 (2006)
发布时间:2006/11/20 0:00:00
标准类别:Standard
出版单位:Standardiserings-Kommissionen I Sverige
标准页数:0
标准简介

Defines the procedures for performing acoustic microscopy on plastic encapsulated electronic components.

等同采用的国际标准

EN 60749-35:2006 - Identical

IEC 60749-35 Ed. 1.0 - Identical

I.S. EN 60749-35:2006 - Identical

NF EN 60749-35:2006 - Identical

NBN EN 60749-35:2007 - Identical

DIN EN 60749-35 (2007-03) - Identical

BS EN 60749-35:2006 - Identical