寰标网-搜索-全部-国内标准

已选条件： 国内中标分类 N 仪器、仪表光学仪器电子光学与其他物理光学仪器

标准状态：

发布时间：

发布时间

每页显示20 条，共找到 129 条结果 <1/7>

标准编号	标准名称	发布部门	发布日期	状态
GB/T 32869-2016	纳米技术单壁碳纳米管的扫描电子显微术和能量色散X射线谱表征方法	中华人民共和国国家质..	2017-03-01	现行
GB/T 30543-2014	纳米技术单壁碳纳米管的透射电子显微术表征方法	中华人民共和国国家质..	2014-11-01	现行
JB/T 11144-2011	X射线衍射仪	中华人民共和国工业和..	2012-04-01	现行
JB/T 11145-2011	X射线荧光光谱仪	中华人民共和国工业和..	2012-04-01	现行
GB/T 26533-2011	俄歇电子能谱分析方法通则	中华人民共和国国家质..	2011-12-01	现行
JB/T 9400-2010	X射线衍射仪技术条件	中华人民共和国工业和..	2010-07-01	现行
GB/T 23414-2009	微束分析扫描电子显微术术语	国家标准化管理委员会	2009-12-01	现行
GB/T 15247-2008	微束分析电子探针显微分析测定钢中碳含量的校正曲线法	中华人民共和国国家质..	2009-04-01	现行
GB/T 20726-2006	半导体探测器X射线能谱仪通则	中华人民共和国国家质..	2007-08-01	已作废
JB/T 10573-2006	工具显微镜		2006-10-11	现行
GB/T 20307-2006	纳米级长度的扫描电镜测量方法通则	中华人民共和国国家质..	2007-02-01	现行
GB/T 20175-2006	表面化学分析溅射深度剖析用层状膜系为参考物质的优化方法	国家标准化管理委员会	2006-11-01	现行
GB/T 20176-2006	表面化学分析二次离子质谱用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度	国家标准化管理委员会	2006-11-01	现行
ZB N 33001-1988	平面光栅摄谱仪		2004-12-01	已作废
JB/T 5482-2004	X射线晶体定向仪技术条件	中华人民共和国国家发..	2004-11-01	已作废
GB/T 19500-2004	X-射线光电子能谱分析方法通则	中华人民共和国国家质..	2004-12-01	现行
GB 7667-2003	电子显微镜X射线泄漏剂量	中华人民共和国国家质..	2004-05-01	已废止
GB/T 18907-2002	透射电子显微镜选区电子衍射分析方法	中华人民共和国国家质..	2003-05-01	已作废
GB/T 15617-2002	硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法	中华人民共和国国家质..	2003-06-01	现行
GB/T 15244-2002	玻璃的电子探针定量分析方法	中华人民共和国国家质..	2003-06-01	已作废

全选

首页上一页12 3 4 5 6 ...下一页尾页