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[GB/T 32869-2016] 纳米技术 单壁碳纳米管的扫描电子显微术和能量色散X射线谱表征方法[现行]

发布时间:2016-08-29 实施时间:2017-03-01

本标准规定了利用SEM和EDX分析单壁碳纳米管粗产品及纯化后粉末或薄膜产品的形态、元素组成、催化剂和..

[GB/T 30543-2014] 纳米技术 单壁碳纳米管的透射电子显微术表征方法[现行]

发布时间:2014-05-06 实施时间:2014-11-01

本标准规定了单壁碳纳米管的透射电子显微术表征形貌的方法,及识别单壁碳纳米管样品中其他材料元素组成的能..

[JB/T 11144-2011] X射线衍射仪[现行]

发布时间:2011-12-20 实施时间:2012-04-01

本标准规定了X射线衍射仪的术语和定义、产品分类、技术要求、检验规则、测试方法、标志、包装运输、贮存等..

[JB/T 11145-2011] X射线荧光光谱仪[现行]

发布时间:2011-12-20 实施时间:2012-04-01

本标准规定了X射线荧光光谱仪的术语和定义、技术条件、检验规则、测试方法、标志、包装、贮存、运输等要求..

[GB/T 26533-2011] 俄歇电子能谱分析方法通则[现行]

发布时间:2011-05-12 实施时间:2011-12-01

本标准规定了以电子束为激发源的俄歇电子能谱(AES,AugerElectronSpectroscop..

[JB/T 9400-2010] X射线衍射仪 技术条件[现行]

发布时间:2010-02-11 实施时间:2010-07-01

本标准规定了多晶X射线衍射仪的技术要求、检验规则和试验方法等。本标准适用于多晶X射线衍射仪。

[GB/T 23414-2009] 微束分析 扫描电子显微术 术语[现行]

发布时间:2009-04-01 实施时间:2009-12-01

本标准定义了扫描电子显微术(SEM)实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语,也包..

[GB/T 15247-2008] 微束分析 电子探针显微分析 测定钢中碳含量的校正曲线法[现行]

发布时间:2008-08-20 实施时间:2009-04-01

本标准代替GB/T 15247-1994《碳钢和低合金钢中碳的电子探针定量分析方法 灵敏度曲线法(检..

[GB/T 20726-2006] 半导体探测器X射线能谱仪通则[已作废]

发布时间:2006-12-25 实施时间:2007-08-01

本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪特性最重要的量值。

[JB/T 10573-2006] 工具显微镜[现行]

发布时间:2006-07-27 实施时间:2006-10-11

[GB/T 20307-2006] 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则[现行]

发布时间:2006-07-19 实施时间:2007-02-01

本标准规定了用扫描电镜测量纳米级长度的基本原则。适用于测量10nm-500nm的点或线的间距。

[GB/T 20175-2006] 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法[现行]

发布时间:2006-03-27 实施时间:2006-11-01

本标准采用适当的单层和多层膜系参考物质,提供优化溅射深度剖析参数的指南。

[GB/T 20176-2006] 表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度[现行]

发布时间:2006-03-27 实施时间:2006-11-01

本标准详细说明了用标定的均匀掺杂物质确定单晶硅中硼的原子浓度的二次离子质谱方法。

[ZB N 33001-1988] 平面光栅摄谱仪[已作废]

发布时间:2004-12-01 实施时间:2004-12-01

[JB/T 5482-2004] X射线晶体定向仪 技术条件[已作废]

发布时间:2004-06-17 实施时间:2004-11-01

本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求,试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存..

[GB/T 19500-2004] X-射线光电子能谱分析方法通则[现行]

发布时间:2004-04-30 实施时间:2004-12-01

本标准规定了X射线光电子能谱(XPS,X-rayPhotoelectronSpectroscopy或..

[GB 7667-2003] 电子显微镜X射线泄漏剂量[已废止]

发布时间:2003-10-10 实施时间:2004-05-01

本标准规定了电子显微镜X射线泄漏剂量、试验方法及检验规则。本标准适用于透射、扫描、反射扫描和电子探针..

[GB/T 18907-2002] 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法[已作废]

发布时间:2002-12-05 实施时间:2003-05-01

本标准规定了用透射电子显微镜对薄晶体试样微米级区域进行选区电子衍射分析的方法。本标准适用于各种金属与..

[GB/T 15617-2002] 硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法[现行]

发布时间:2002-11-11 实施时间:2003-06-01

本标准规定了电子束下稳定的天然和人工合成硅酸矿物的电子探针或扫描电子显微镜中X射线波长色散光谱仪的定..

[GB/T 15244-2002] 玻璃的电子探针定量分析方法[已作废]

发布时间:2002-11-11 实施时间:2003-06-01

本标准规定了电子探针和扫描电子显微镜的X射线波谱仪、X射线能谱仪对玻璃的定量分析方法。本标准适用于玻..

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