当前位置： 首页 > 表面化学分析溅射深度剖析用层状膜系为参考物质的优化方法

表面化学分析溅射深度剖析用层状膜系为参考物质的优化方法现行

Surface chemical analysis-Sputter depth profiling-Optimization using layered systems as reference materials

标准号：GB/T 20175-2006

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

基本信息

标准号：GB/T 20175-2006

发布时间：2006-03-27

实施时间：2006-11-01

首发日期：2006-03-27

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：查良镇、陈旭、王光普、黄雁华、黄天斌、刘林、葛欣、桂东

出版机构：中国标准出版社

标准分类：电子光学与其他物理光学仪器

ICS分类：化学分析

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会

起草单位：清华大学电子工程系

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

发布部门：国家标准化管理委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准简介

本标准采用适当的单层和多层膜系参考物质，提供优化溅射深度剖析参数的指南。

替代情况

会员注册/登录后查看详情

引用标准

会员注册/登录后查看详情

本标准相关公告

会员注册/登录后查看详情

采标情况

会员注册/登录后查看详情

推荐检测机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐认证机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐培训机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法 现行