当前位置:
首页 >
半导体探测器X射线能谱仪通则

Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
标准号:GB/T 20726-2006
基本信息
标准号:GB/T 20726-2006
发布时间:2006-12-25
实施时间:2007-08-01
首发日期:2006-12-25
出版单位:中国标准出版社查看详情>
起草人:曾荣树、徐文东、毛骞、马玉光、范光
作废日期:2016-09-01
出版机构:中国标准出版社
标准分类: 电子光学与其他物理光学仪器
ICS分类:有关化学分析方法的其他标准
提出单位:全国微束分析标准化技术委员会
起草单位:中国科学院地质与地球物理研究所
归口单位:全国微束分析标准化技术委员会
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
标准简介
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪特性最重要的量值。
推荐检测机构
申请入驻
暂未检测到相关机构,邀您申请入驻~
推荐认证机构
申请入驻
暂未检测到相关机构,邀您申请入驻~
推荐培训机构
申请入驻
暂未检测到相关机构,邀您申请入驻~