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NBN EN 60749-29:2011现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 29: Latch-Up Test

出版：Belgian Standards

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基本信息

标准编号： NBN EN 60749-29:2011

发布时间：2011/10/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Belgian Standards

标准页数：8

标准简介

2011 [01/10/2011]2005 [01/05/2005]

本标准替代的旧标准

NBN EN 60749-29:2005

等同采用的国际标准

I.S. EN 60749-29:2011 - Identical

EN 60749-29:2011 - Identical

BS EN 60749-29:2011 - Identical

DIN EN 60749-29 (2012-01) - Identical

NF EN 60749-29:2012 - Identical

UNE EN 60749-29:2004 - Identical

SS EN 60749-29 Ed. 1 (2004) - Identical

NF EN 60749-29:2004 - Identical

DIN EN 60749-29 (2004-07) - Identical

SS EN 60749-29 Ed. 2 (2011) - Identical

DIN EN 60749-29 : 2012 - Identical

IEC 60749-29 : 2.0 - Identical

I.S. EN 60749-29:2011 - Identical

BS EN 60749-29 : 2011 - Identical

DIN EN 60749-29 : 2012 - Identical