DIN EN 60749-29 (2012-01)现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 29: Latch-up Test (iec 60749-29:2011)
出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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2012 [01/01/2012]2004 [01/07/2004]DRAFT 2002 [01/09/2002]
UNE EN 60749-29:2004 - Identical
NF EN 60749-29:2004 - Identical
EN 60749-29:2011 - Identical
BS EN 60749-29:2011 - Identical
NBN EN 60749-29:2011 - Identical
SS EN 60749-29 Ed. 2 (2011) - Identical
NF EN 60749-29:2012 - Identical
