NF EN 60749-29:2012现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 29: Latch-Up Test
出版：Association Francaise de Normalisation
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2012 [01/08/2012]2004 [01/04/2004]
Indice de classement: C96-022-29. (05/2004) PR NF EN 60749-29 March 2011. (03/2011) 2004 Version is still active. (09/2012)
I.S. EN 60749-29:2011 - Identical
EN 60749-29:2011 - Identical
BS EN 60749-29:2011 - Identical
NBN EN 60749-29:2011 - Identical
DIN EN 60749-29 (2012-01) - Identical
UNE EN 60749-29:2004 - Identical
SS EN 60749-29 Ed. 1 (2004) - Identical
SS EN 60749-29 Ed. 2 (2011) - Identical
