DIN EN 60749-29 : 2012现行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 29: LATCH-UP TEST (IEC 60749-29:2011)
出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
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BS EN 60749-29 : 2011 - Identical
UNE EN 60749-29 : 2004 - Identical
NF EN 60749-29 : 2012 - Identical
NBN EN 60749-29 : 2011 - Identical
EN 60749-29 : 2011 - Identical
I.S. EN 60749-29:2011 - Identical
IEC 60749-29 : 2.0 - Identical
I.S. EN 60749-29:2011 - Identical
BS EN 60749-29 : 2011 - Identical
UNE EN 60749-29 : 2004 - Identical
NF EN 60749-29 : 2012 - Identical
NBN EN 60749-29 : 2011 - Identical
