| 标准编号 | 标准名称 | 发布部门 | 发布日期 | 状态 | |
| GB/T 14140.2-1993 | 硅片直径测量方法 千分尺法 | 国家技术监督局 | 1993-10-01 | 已作废 | |
| YS/T 43-1992 | 高纯砷 | 中国有色金属工业总公.. | 1993-03-01 | 已作废 | |
| YS/T 25-1992 | 硅抛光片表面清洗方法 | 1993-01-01 | 已废止 | ||
| YS/T 26-1992 | 硅片边缘轮郭检验方法 | 中国有色金属工业总公.. | 1993-01-01 | 已作废 | |
| YS/T 28-1992 | 硅片包装 | 中国有色金属工业总公.. | 1993-01-01 | 已作废 | |
| GB 11095-1989 | 霍尔器件和甘氏器件用砷化镓液相外延片 | 1990-03-01 | 已作废 | ||
| GB/T 11070-1989 | 还原锗锭 | 国家技术监督局 | 1990-02-01 | 已作废 | |
| GB/T 11071-1989 | 区熔锗锭 | 国家技术监督局 | 1990-02-01 | 已作废 | |
| GB/T 11072-1989 | 锑化铟多晶、单晶及切割片 | 国家技术监督局 | 1990-02-01 | 已作废 | |
| GB 11093-1989 | 液封直拉法砷化镓单晶及切割片 | 中国有色金属工业协会 | 1990-03-01 | 已作废 | |
| GB/T 11094-1989 | 水平法砷化镓单晶及切割片 | 国家技术监督局 | 1990-03-01 | 已作废 | |
| YS/T 209-1994 | 硅材料原生缺陷图谱 | 中国有色金属工业总公.. | 1988-03-01 | 已废止 | |
| GB 3495-1983 | 砷 | 1983-12-01 | 已作废 | ||
| YS/T 290-1994 | 霍尔器件和甘氏器件用砷化镓液相外延片 | 1983-07-01 | 已废止 | ||
| SJ 1550-1979 | 硅外延片检测方法 | 中华人民共和国第四机.. | 1980-06-01 | 已废止 | |
| SJ 1551-1979 | 硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行) | 中华人民共和国第四机.. | 1980-06-01 | 已废止 | |
| GB 1476-1979 | 碲 | 1979-10-01 | 已作废 | ||
| GB 1477-1979 | 硒 | 1979-10-01 | 已作废 |
