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[GB/T 14140.2-1993] 硅片直径测量方法 千分尺法[已作废]
发布时间：1993-02-06
实施时间：1993-10-01
本标准规定了用千分尺测量硅片直径的方法。本标准适用于测量圆形硅片的直径。本标准不适用于测量硅片的不圆..
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[YS/T 43-1992] 高纯砷[已作废]
发布时间：1992-03-19
实施时间：1993-03-01
本标准规定了高纯砷的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存。本标准适用于工业..
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[YS/T 25-1992] 硅抛光片表面清洗方法[已废止]
发布时间：1992-03-09
实施时间：1993-01-01
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[YS/T 26-1992] 硅片边缘轮郭检验方法[已作废]
发布时间：1992-03-09
实施时间：1993-01-01
本标准规定了硅片边缘轮廓的检验方法。本检验方法适用于检验倒角硅片的边缘轮廓.
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[YS/T 28-1992] 硅片包装[已作废]
发布时间：1992-03-09
实施时间：1993-01-01
本 标准 规 定了硅片包装的分级、技术要求、操作、运输和贮存。本 标 准 适用于硅抛光片和硅外延片的..
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[GB 11095-1989] 霍尔器件和甘氏器件用砷化镓液相外延片[已作废]
发布时间：1990-03-01
实施时间：1990-03-01
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发布时间：1989-03-31
实施时间：1990-02-01
本标准规定了还原锗锭的产品分类、技术要求、试验方法及检验规则等。本标准适用于以二氧化锗为原料，经氢还..
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发布时间：1989-03-31
实施时间：1990-02-01
本标准规定了区熔锗锭的产品分类、技术要求、试验方法及检验规则等。本标准适用于以还原锗锭及锗单晶返料为..
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[GB/T 11072-1989] 锑化铟多晶、单晶及切割片[已作废]
发布时间：1989-03-31
实施时间：1990-02-01
本标准规定了锑化铟多晶、单晶及单晶切割片的产品分类、技术要求和试验方法等。本标准适用于区熔法制备的锑..
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[GB 11093-1989] 液封直拉法砷化镓单晶及切割片[已作废]
发布时间：1989-03-31
实施时间：1990-03-01
本标准规定了液封直拉法砷化镓单晶及切割片的产品分类、技术要求、试验方法和检验规则等。本标准适用于液封..
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[GB/T 11094-1989] 水平法砷化镓单晶及切割片[已作废]
发布时间：1989-03-31
实施时间：1990-03-01
本标准规定了水平法砷化镓单晶及切割片的产品分类、技术要求、试验方法和检验规则等。本标准适用于水平法制..
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[YS/T 209-1994] 硅材料原生缺陷图谱[已废止]
发布时间：1987-06-25
实施时间：1988-03-01
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[GB 3495-1983] 砷[已作废]
发布时间：1983-12-01
实施时间：1983-12-01
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[YS/T 290-1994] 霍尔器件和甘氏器件用砷化镓液相外延片[已废止]
发布时间：1983-07-01
实施时间：1983-07-01
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发布时间：1980-03-01
实施时间：1980-06-01
本标准规定了N/N、P/P结构硅外延片的检测方法。其检测项目有外延层电阻率、外延层厚度、层错密度、位..
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[SJ 1551-1979] 硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行)[已废止]
发布时间：1980-03-01
实施时间：1980-06-01
本标准规定了N/N、P/P结构硅外延片的净杂质浓度，通过净杂质浓度与电阻率的关系曲线，可求得电阻率。
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[GB 1476-1979] 碲[已作废]
发布时间：1979-10-01
实施时间：1979-10-01
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[GB 1477-1979] 硒[已作废]
发布时间：1979-10-01
实施时间：1979-10-01
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