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[YS/T 43-2011] 高纯砷[现行]

发布时间:2011-12-20 实施时间:2012-07-01

本标准规定了高纯砷的分类和标记、要求、试验方法、检验规则、产品标识、包装、运输、贮存等。本标准适用于..

[YS/T 724-2009] 硅粉[废止]

发布时间:2009-12-04 实施时间:2010-06-01

本标准规定了硅粉的要求、试验方法、检验规则和包装、标志、运输、贮存及订货单(或合同)内容等。 ..

[GB/T 2881-2008] 工业硅[已作废]

发布时间:2008-03-31 实施时间:2008-09-01

本标准规定了工业硅的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存和订货单或合同内容。本标准适用于..

[YS/T 223-2007] 硒[现行]

发布时间:2007-11-14 实施时间:2008-05-01

本标准规定了硒的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存。本标准适用于由铜、铅、锌等冶炼生产..

[YS/T 651-2007] 二氧化硒[现行]

发布时间:2007-11-14 实施时间:2008-05-01

本标准规定了二氧化硒的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存。本标准适用于采用燃烧法所生产..

[GB/T 11070-2006] 还原锗锭[已作废]

发布时间:2006-07-18 实施时间:2006-11-01

本标准规定了还原锗锭的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存、订货单(或合同)。本标准适用..

[GB/T 11071-2006] 区熔锗锭[已作废]

发布时间:2006-07-18 实施时间:2006-11-01

本标准规定了区溶锗锭的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、储存等。本标准适用于以还原锗锭及锗..

[YS 68-2004] 砷[已作废]

发布时间:2004-06-17 实施时间:2004-11-01

本标准规定了砷的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存、质量证明书及安全。 本标准适用于以..

[GB/T 8646-1998] 半导体键合铝-1%硅细丝[已作废]

发布时间:1998-07-15 实施时间:1999-02-01

本标准规定了半导体键合铝-1%硅细丝的要求、试验方法、检验规则及包装、标志、运输、贮存。本标准适用于..

[YS/T 99-1997] 三氧化二砷[废止]

发布时间:1997-05-15 实施时间:1998-05-01

本标准规定了二氧化二砷的技术条件、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、储存本标准适用于湿法、火法工..

[SN/T 0550.1-1996] 出口金属硅中铁、铝、钙的测定 分光光度法[已废止]

发布时间:1996-07-10 实施时间:1996-12-01

本标准规定了用磺基水杨酸分光光度法测定金属硅中铁量,铬天青S分光光度法测定金属硅中铝量,偶氮肿I分光..

[SN/T 0550.2-1996] 出口金属硅中铁、铝、钙的测定 容量法[现行]

发布时间:1996-07-10 实施时间:1996-12-01

本标准规定了用EDTA容量法测定铁、铝、钙含量的方法。本标准适用于出口金属硅中铁、铝、钙含量的测定。..

[YS/T 223-1996] 硒[已作废]

发布时间:1996-02-02 实施时间:1996-12-01

[GB/T 15713-1995] 锗单晶片[已作废]

发布时间:1995-10-17 实施时间:1996-03-01

本标准规定了锗单晶切割片、研磨片和腐蚀片的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和..

[GB/T 5238-1995] 锗单晶[已作废]

发布时间:1995-10-17 实施时间:1996-03-01

本标准规定了锗单晶的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本标准适用于制作..

[YS/T 68-1993] 砷[已作废]

发布时间:1994-04-01 实施时间:1994-04-01

[YS/T 222-1996] 碲锭[已作废]

发布时间:1994-01-01 实施时间:1993-03-01

[YS/T 224-1994] 铊[已作废]

发布时间:1993-03-01 实施时间:1993-03-01

[GB/T 14139-1993] 硅外延片[已作废]

发布时间:1993-02-06 实施时间:1993-10-01

本标准规定了硅外延片的产品分类、技术要求、试验方法和检验规则及标志、包装、运输、贮存。本标准适用于在..

[GB/T 14140.1-1993] 硅片直径测量方法 光学投影法[已作废]

发布时间:1993-02-06 实施时间:1993-10-01

本标准规定了用光学投影仪测量硅片直径的方法。本标准适用于测量圆形硅片的直径。测量范围为声φ40~φ1..

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