UNE EN 60749-6:2003现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Storage At High Temperature
出版：Asociacion Espanola de Normalizacion
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Determines and test the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied.
Supersedes UNE EN 60749. (10/2005)
SS EN 60749-6 Ed. 1 (2003) - Identical
IEC 60749-6 Ed. 1.0 - Identical
I.S. EN 60749-6:2002 - Identical
NF EN 60749-6:2002 - Identical
NBN EN 60749-6:2003 - Identical
DIN EN 60749-6 (2003-04) - Identical
BS EN 60749-6:2002 - Identical
EN 60749-6:2017 - Identical
BS EN 60749-6:2017 - Identical
DIN EN 60749-6 : 2016 - Identical
I.S. EN 60749-6:2017 - Identical
BS EN 60749-6 : 2017 - Identical
DIN EN 60749-6 : 2016 - Identical
