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BS EN 60749-6:2002被替代

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Storage at high temperature

出版：British Standards Institution

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专家解读视频

基本信息

标准编号： BS EN 60749-6:2002

发布时间：2002/9/10 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：British Standards Institution

标准页数：8

标准备注

© British Standards Institution 2013

Replaces notes:
Partially replaces BS EN 60749:1999.

本标准替代的旧标准

BS EN 60749 : 1999

01/208602 DC : DRAFT DEC 2001

16/30344796 DC : 0

BS EN 60749:1999

替代本标准的新标准

BS EN 60749-6:2017

等同采用的国际标准

I.S. EN 60749-6:2017 - Identical

IEC 60749-6 : 2.0 - Identical

DIN EN 60749-6 : 2016 - Identical

EN 60749-6:2017 - Identical

NF EN 60749-6:2002 - Identical

IEC 60749-6 Ed. 1.0 - Identical

I.S. EN 60749-6:2002 - Identical

DIN EN 60749-6 (2003-04) - Identical

NBN EN 60749-6:2003 - Identical

SS EN 60749-6 Ed. 1 (2003) - Identical

UNE EN 60749-6:2003 - Identical